CVAK, J. Using the Microscope for Diagnostics of Structure of Materials and Fault El. Equipment. In: Proceedings of the 21st Conference STUDENT EEICT 2015 [online]. Vysoké učení technické v Brně, Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií, 2015, s. 296-299 [cit. 2019-10-18]. ISBN 978-80-214-5148-3. Dostupné z: http://hdl.handle.net/11012/43006
Uložit do Citace PRO